Comparison of Fast and Reliable Zero-Voltage Detection Topologies

Beushausen, Steffen (Corresponding author); Krolzik, Jonas; Joebges, Philipp; Voss, Johannes; de Doncker, Rik W.

New York, NY : IEEE (2020)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on industry applications : IA
Band: 56
Heft: 5
Seite(n)/Artikel-Nr.: 5212-5221