A flexible test bench for power semiconductor switching loss measurements

Gottschlich, Jan (Corresponding author); Kaymak, Murat; Christoph, Martin; de Doncker, Rik W.

Piscataway, NJ : IEEE (2015)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: 2015 IEEE 11th International Conference on Power Electronics and Drive Systems (PEDS 2015) : Sydney, Australia, 9 - 12 June 2015
Seite(n)/Artikel-Nr.: 442-448

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