A thermal modeling methodology for power semiconductor modules

van der Broeck, Christoph Henrik (Corresponding author); Conrad, Marcus; de Doncker, Rik W.

Amsterdam [u.a.] : Elsevier (2015)
Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel

In: Microelectronics reliability
Band: 55
Heft: 9/10
Seite(n)/Artikel-Nr.: 1938-1944