Characterization and comparison of high blocking voltage IGBTs and IEGTs under hard- and soft-switching conditions

Fujii, Kansuke; Köllensperger, Peter; de Doncker, Rik W.

New York, NY : IEEE (2008)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on power electronics : PE
Band: 23
Heft: 1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 172-179

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