Model Parameterization of Nonlinear Devices Using Impedance Spectroscopy

Kowal, Julia; Hente, Dirk; Sauer, Dirk Uwe

New York, NY : IEEE (2009)
Fachzeitschriftenartikel

In: IEEE transactions on instrumentation and measurement : IM
Band: 58
Heft: 7
Seite(n)/Artikel-Nr.: 2343-2350

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